XJL-302DIC grande microscopio di fase di interferenza differenziale posizionale è adatto per l'osservazione di fase di interferenza differenziale riflessiva della forma superficiale di oggetti opachi, ma anche per la microscopia prospettica di oggetti trasparenti. Adottando un eccellente sistema ottico infinito e un concetto di progettazione funzionale modulare, può agevolare l'aggiornamento del sistema, realizzare l'osservazione della polarizzazione, l'osservazione della fase di interferenza differenziale e altre funzioni, il corpo compatto e stabile ad alta rigidità, che incarna pienamente i requisiti anti-vibrazione della microoperazione. Il design ideale per soddisfare i requisiti ergonomici rende l'operazione più comoda e più spaziosa. Applicabile alla microosservazione del tessuto metallico e della morfologia superficiale, è lo strumento ideale per la metallologia, la mineralogia e la ricerca di ingegneria di precisione.